1. Latchup in CMOS technology : the problem and its cure
المؤلف: Troutman, Ronald R
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Metal oxide semiconductors, Complementary-- Defects,، Metal oxide semiconductors, Complementary-- Reliability
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
.
T76
1986
2. Latchup in CMOS technology : the problem and its cure
المؤلف: Troutman, Ronald R.
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع: ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Reliability
رده :
TK
7871
.
99
.
M44T76
1986
3. Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits /
المؤلف: Ming-Dou Ker and Sheng-Fu Hsu
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary-- Defects,Metal oxide semiconductors, Complementary-- Reliability
رده :
TK7871
.
99
.
M44
K47
2009
4. Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
المؤلف: / Ming-Dou Ker and Sheng-Fu Hsu
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary, Defects,Metal oxide semiconductors, Complementary, Reliability
رده :
E-BOOK
